RAS Chemistry & Material ScienceЖурнал аналитической химии Journal of Analytical Chemistry

  • ISSN (Print) 0044-4502
  • ISSN (Online) 3034-512X

Behavior and Fractionation of Low-Volatile Impurities in a DC Arc in the Analysis of Zirconium by Atomic Emission Spectrometry

PII
10.31857/S0044450223020160-1
DOI
10.31857/S0044450223020160
Publication type
Status
Published
Authors
Volume/ Edition
Volume 78 / Issue number 2
Pages
144-150
Abstract
We studied the effect of chemically active fluorine-containing additives AlF3, BaF2, and ZnF2 on the character of evaporation of some low-volatile elements from a refractory matrix in the crater of a DC arc electrode in the analysis of zirconium by atomic emission spectrometry. The additives cause the formation of volatile fluorides of low-volatile elements and their fractional evaporation with respect to the base element evaporation. Impurity fluorides rapidly and completely evaporate during the first 30 s of arcing, and only after that the intensive evaporation of the base begins. Such fractionation increases significantly the intensity of the spectral lines of impurities, decreases the background intensity, and, consequently, improves the limits of determination of low-volatile elements in zirconium oxide. Zinc fluoride is the most effective of the studied additives. Using zinc fluoride, we lowered the limits of determination of low-volatile elements by two orders of magnitude compared to the limits of determination in zirconium oxide without additives and improved the reproducibility of the results of determinations.
Keywords
дуговой атомно-эмиссионный анализ труднолетучие элементы оксид циркония химически активные добавки пределы определения фракционное испарение.
Date of publication
14.09.2025
Year of publication
2025
Number of purchasers
0
Views
13

References

  1. 1. Решетников Ф.Г. Разработка, производство и эксплуатация тепловыделяющих элементов энергетических реакторов. М.: Энергоиздат, 1995. Кн. 1. С. 126.
  2. 2. Глинская И.В., Теселкина А.Э., Алексеева Т.Ю., Куфтырев Р.Ю. Анализ диоксида циркония, стабилизированного оксидом иттрия, методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2018. Т. 84. № 4. С. 16.
  3. 3. Домбровская М.А., Лисиенко Д.Г., Шафар О.Ю. Определение гафния в циркониевых материалах // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2019. Т. 85. № 1. Ч. II. С. 56.
  4. 4. Елинсон С.В., Петров К.И. Аналитическая химия циркония и гафния. М.: Наука, 1965. 240 с.
  5. 5. Бурмий Ж.П., Золотарева Н.И., Хвостиков В.А., Гражулене С.С. Фотоэлектрическая регистрация эмиссионных спектров на основе приборов с зарядовой связью // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2008. Т. 74. № 6. С. 26.
  6. 6. Верятин У.Д., Маширев В.П. Термодинамические свойства индивидуальных веществ. М.: Атомиздат, 1965. С. 154.
  7. 7. Чанышева Т.А., Шелпакова И.Р. Унифицированный метод атомно-эмиссионного спектрального анализа объектов разной природы // Аналитика и контроль. 2002. Т. 6. № 3. С. 298.
  8. 8. Гольдфарб В.М., Ильина Е.В. О зависимости интенсивности спектральных линий от состава плазмы дуги постоянного тока / Прикладная спектроскопия. М.: Наука, 1969. Т. 1. С. 172.
  9. 9. Зильберштейн Х.И. Спектральный анализ чистых веществ. Л.: Химия, 1971. С. 105.
  10. 10. Зайдель А.Н., Калитеевский Н.И., Липис Л.В., Чайка М.П. Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов. М.: Физматгиз, 1960. 686 с.
  11. 11. Домбровская М.А., Лисиенко Д.Г., Гильмуллина Ч.Г., Кубрина Е.Д. Совершенствование атомно-эмиссионной методики анализа графитового коллектора // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2017. Т. 83. № 1. Ч. II. С. 51.
  12. 12. Экспериандова Л.П., Беликов К.Н., Химченко С.В., Бланк Т.А. Еще раз о пределах обнаружения и определения // Журн. аналит. химии. 2010. Т. 65. № 3. С. 229. (Eksperiandova L.P., Belikov K.N., Khimchenko S.V., Blank T.A. Once again about determination and detection limits // J. Anal. Chem. 2010. V. 65. № 3. P. 223.)
QR
Translate

Индексирование

Scopus

Scopus

Scopus

Crossref

Scopus

Higher Attestation Commission

At the Ministry of Education and Science of the Russian Federation

Scopus

Scientific Electronic Library