ОХНМЖурнал аналитической химии Journal of Analytical Chemistry

  • ISSN (Print) 0044-4502
  • ISSN (Online) 3034-512X

УЛУЧШЕНИЕ МЕТРОЛОГИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ДУГОВОГО АТОМНО-ЭМИССИОННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТРУДНОЛЕТУЧИХ ПРИМЕСЕЙ В ТУГОПЛАВКИХ МАТРИЦАХ В ПРИСУТСТВИИ ФТОРСОДЕРЖАЩИХ ДОБАВОК

Код статьи
S3034512X25120055-1
DOI
10.7868/S3034512X25120055
Тип публикации
Статья
Статус публикации
Опубликовано
Авторы
Том/ Выпуск
Том 80 / Номер выпуска 12
Страницы
1321-1339
Аннотация
Работа посвящена важной области дугового атомно-эмиссионного анализа, а именно: изучению влияния химически активных добавок на метрологические характеристики определения труднолетучих элементов в тугоплавких матрицах. Критически рассмотрен ряд научных результатов, опубликованных авторами статьи, в сравнении с литературными данными по изучению механизма действия этих добавок и их практическому использованию. Более чем 25-летний опыт и итог таких исследований, обобщение найденных закономерностей и преимуществ фторирующих агентов AlF, AgF, BaF, SrF и ZnF позволили сделать заключение об их универсальности в анализе тугоплавких матриц и целесообразности практического использования с точки зрения улучшения селективности, чувствительности и точности определений дугового атомно-эмиссионного анализа. Установлено, что наиболее эффективным фторирующим агентом при анализе всех исследованных матриц является фторид цинка. Его использование позволило снизить пределы определения труднолетучих элементов на 2–3 порядка по сравнению с результатами определения без добавки, а также улучшить сходимость и правильность результатов определений.
Ключевые слова
дуговой атомно-эмиссионный анализ тугоплавкие матрицы химически активные фторсодержащие добавки труднолетучие элементы пределы определения сходимость результатов
Дата публикации
06.02.2026
Год выхода
2026
Всего подписок
0
Всего просмотров
65

Библиография

  1. 1. Русанов А.К. Основы количественного анализа руд и минералов. М.: Недра, 1978. С. 158.
  2. 2. Фришберг А.А. Повышение чувствительности определения при помощи химически активных носителей // Журн. прикл. спектроскопии. 1965. Т. 3. № 2. С. 187.
  3. 3. Терек Т., Мика Й., Гезуш Э. Эмиссионный спектральный анализ. М.: Мир, 1982. Кн. 1. С. 233.
  4. 4. Семенова А.А., Кузяков Ю.Я., Семененко К.А., Гаврилова Н.К. Влияние добавок хлоридов щелочноземельных элементов на спектральное определение титана циркония и гафния // Журн. аналит. химии.1979. Т. 34. № 11. С. 2145.
  5. 5. Каракин А.В., Штепа Е.В. Влияние катиона добавки на интенсивность спектральных линий микроэлементов в атомно-эмиссионном спектральном анализе // Журн. прикл. спектроскопии. 1991. Т. 54. № 1. С. 18. @@ Karyakin A.V., Shtepa L.P Influence of carrier cations on the intensity of spectral lines of microelements in atomic-emission spectral analysis. // J. Appl. Spectrosc. 1991. V. 54. № 1. P. 10.
  6. 6. Юделевич И.Г., Буянова Л.М., Шелиакова И.Р. Химико-спектральный анализ веществ высокой чистоты. Новосибирск: Наука, 1980. 223 с.
  7. 7. Швангирадзе Р.Р., Высокова И.Л., Мозговая Т.А., Петрова О.А. Спектральное определение микропримесей в порошковых материалах // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 1972. Т. 38. № 4. С. 384.
  8. 8. Лейкин С.В., Орлова В.А. Определение титана, циркония, молибдена и ванадия в высокочистом оксиде алюминия α-модификации // Высокочистые вещества. 1990. № 3. С. 189.
  9. 9. Ильченко О.П., Золотоанидза Э.С. Атомно-эмиссионное спектрографическое определение микропримесей в монокристаллических подложках для ВТСП-пленок // Высокочистые вещества. 1992. № 4. С. 132.
  10. 10. Домбровская М.А., Лисненко Д.Г., Шафар О.Ю. Определение гарниз в циркониевых материалах // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2019. Т. 85. № 1. Ч. II. С. 56.
  11. 11. Домбровская М.А., Лисненко Д.Г., Пильмуллина Ч.Г., Кубрина Е.Д. Совершенствование атомно-эмиссионной методики анализа графитового коллектора // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2017. Т. 83. № 1. Ч. II. С. 51.
  12. 12. Лисенко Д.Г., Домбровская М.А., Кубрина Е.Д. Синтез и испытания стандартного образца состава графитового коллектора микропримесей // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2017. Т. 83. № 1. Ч. II. С. 45.
  13. 13. Верянин У.Д., Маширев В.П. Термодинамические свойства неорганических веществ. М.: Атомиздат, 1965. С. 54.
  14. 14. ГОСТ 23463-79 Графит порошковый особой чистоты. Технические условия. М.: Издательство стандартов. 1991. 9 с.
  15. 15. Виргиева Ю.С. Примеси в реакторном графите и его работоспособность // Атомная энергия. 1998. Т. 84. № 1. С. 7.
  16. 16. Баджикова И.И., Пименов В.Г. Определение примесей в оптической керамике и ее прекурсорах методами атомной спектрометрии // Вестн. Нижегор. ун-та им. Н.И. Лобачевского. 2013. № 4 (1). С. 98.
  17. 17. Решетников Ф.Г. Разработка, производство и эксплуатация тепловыделяющих элементов энергетических реакторов. М.: Энергоиздат, 1995. Кн. 1. С. 126.
  18. 18. Бурин Ж.П., Золотарева Н.И., Хвостиков В.А., Гражданск С.С. Фотоэлектрическая регистрация эмиссионных спектров на основе приборов с зарядовой связью // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2008. Т. 74. № 6. С. 26.
  19. 19. Золотарева Н.И., Гражданск С.С. Использование химически активных добавок для повышения чувствительности определения редкоземельных элементов и тория дуговым атомно-эмиссионным методом. // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2011. Т. 77. № 9. С. 11.
  20. 20. Золотарева Н.И., Гражданск С.С. Влияние химически активных добавок на характер испарения труднодетучих примесей при их дуговом атомно-эмиссионном определении в алюминии и его оксиде // Журн. аналит. химии. 2024. Т. 79. № 3. С. 237. @@ Zolotareva N.I., Grazhulene S.S. Influence of chemically active additives on the nature of the evaporation of highly volatile impurities during their determination in aluminum and its oxide by arc atomic emission spectrometry // J. Anal. Chem. 2024. V. 79. № 2. P. 161.
  21. 21. Золотарева Н.И., Гражданск С.С. Поведение и фракционирование труднодетучих примесей в дуге постоянного тока при анализе циркония атомно-эмиссионным методом // Журн. аналит. химии. 2023. Т. 78. № 2. С. 144. @@ Zolotareva N.I., Grazhulene S.S. Behavior and fractionation of low-volatile impurities in a DC arc in the analysis of zirconium by atomic emission spectrometry // J. Anal. Chem. 2023. V. 78. № 2. P. 187.
  22. 22. Золотарева Н.И., Гражданск С.С. Исследование механизма испарения примесных элементов в дуговом атомно-эмиссионном анализе графитового порошка особой чистоты в присутствии фотосодержащих добавок // Журн. аналит. химии. 2025. Т. 80. № 1. С. 62. @@ Zolotareva N.I., Grazhulene S.S. Study of the evaporation mechanism of impurity elements in the analysis of high-purity graphite powder with fluorine additives by arc atomic emission spectrometry // J. Anal. Chem. 2025. V. 80. № 1. P. 85.
  23. 23. Зимберитен К.И. Спектральный анализ чистых веществ. Л.: Химия, 1971. С. 97.
  24. 24. Чаньшева Т.А., Шеппакова И.Р. Унифицированный метод атомно-эмиссионного спектрального анализ объектов разной природы // Аналитика и контроль. 2002. Т. 6. № 3. С. 298.
  25. 25. Экспериалова Л.П., Беликов К.Н., Химченко С.В., Бланк Т.А. Еще раз о пределах обнаружения и определения // Журн. аналит. химии. 2010. Т. 65. № 3. С. 229. @@ Eksperiandova L.P., Belikov K.N., Khimchenko S.V., Blank T.A. Once again about determination and detection limits // J. Anal. Chem. 2010. V. 65. № 3. P. 223.
QR
Перевести

Индексирование

Scopus

Scopus

Scopus

Crossref

Scopus

Высшая аттестационная комиссия

При Министерстве образования и науки Российской Федерации

Scopus

Научная электронная библиотека